材料分析的新旋转以更高的分辨率和效率探测电子自旋态的好处

现在可以以更高的分辨率和更有效地探测电子自旋态，从而为材料分析和数据处理技术开辟了新的机遇。

日本国家材料科学研究所的研究人员KoichiroYaji和ShunsukeTsuda开发了一种改进型显微镜，可以可视化材料中电子自旋状态的关键方面。他们的研究发表在《先进材料科学与技术：方法》杂志上。

电子的量子力学特性(称为自旋)比我们日常生活中物体的自旋更复杂，但与电子角动量的测量有关。电子的自旋态会对它们所属材料的电子和磁性行为产生重大影响。

Yaji和Tsuda开发的技术被称为成像型自旋分辨光电子显微镜(iSPEM)。它利用光与材料中电子的相互作用来检测电子自旋的相对排列。它特别关注电子自旋极化——电子自旋在特定方向上集体排列的程度。

该团队的iSPEM机器由三个互连的超高真空室组成，用于制备和分析样品。电子通过吸收光能从样品中发射出来，通过设备加速，然后通过与自旋过滤器晶体的相互作用进行分析。结果显示为图像，专家可以使用图像来收集有关样品中电子自旋状态的必要信息。

“与传统机器相比，我们的iSPEM机器将数据采集效率大幅提高了一万倍，空间分辨率提高了十倍以上，”亚吉说。“这为在亚微米区域以前无法达到的水平上表征微观材料和器件的电子结构提供了巨大的机会。”

这一进步可以促进信息处理和其他电子设备中电子自旋态的使用改进，作为快速发展的自旋电子学领域的一部分。在自旋电子学应用中，除了传统的电荷使用之外，还利用电子的自旋状态来存储和处理信息。

“这可能会带来更节能、更快的电子设备，包括量子计算机，”亚吉说。将量子力学行为的微妙之处应用于计算是将计算能力提升到另一个水平的最前沿，但到目前为止，大多数进展都仅限于神秘的演示而不是实际应用。掌握电子自旋的理解、控制和可视化可能是向前迈出的重要一步。

“我们现在计划使用我们的机器来研究开发新一代电子自旋设备的可能性，因为它将使我们能够研究以前隐藏在视野之外的微小且结构复杂的样品的特性，”亚吉总结道。